屡烧行管原因分析与检修屡烧行管原因分析与检修

屡烧行扫描输出管缘由分析与检修屡烧行扫描输出管缘由分析与检修
根据行扫描输出管击穿的故障类型分根据行扫描输出管击穿的故障类型分：：1、过压击穿 2、过流击穿
根据行扫描输出管击穿的故障类型分根据行扫描输出管击穿的故障类型分：：
行扫描输出管损坏后，我们在拆下行扫描输出管，可以使用万用表测试其静态电阻，假如 CE
阻值在数百欧姆，行扫描输出管一般是在使用过程中，过流后过热慢慢烧毁，在烧毁之前
需要有一定的时间积存。
 
假如 CE阻值在数欧姆，此类情况是行扫描输出管过压烧毁，多数都是瞬间意外忽然
烧毁的，在烧毁之前没有异常征兆，或者是开机即烧行扫描输出管，或者是使用几天也没
有问题但没有规律某次开机时忽然烧行扫描输出管。
行扫描输出管击穿维修的检修方法行扫描输出管击穿维修的检修方法：：
行扫描输出管击穿维修的检修方法行扫描输出管击穿维修的检修方法：：
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、  电流监测法
检测点：在+45V或+51V或+190V开关变压器二次供电输出电容处，二次供
电调整管滤波电容处，行包初级线圈后。
 
2、  电压测试法
显示器的行激励供电因为显示器设计不同，有取自+12V，+45V，+80V等几
种，显示器的行扫描输出管有使用双极型的，也有使用场效应管的。
假如不好找对应型号，可以考虑直接使用 IRF630，在替换行激励管后，最
好使用示波器测试一下波形，同时长时间监测一下行扫描输出管的温升。
3、  波形检测对比法
行场 IC 的 HOUT 端，行激励管的 C 极，行激励变压器的 34 脚，行扫描输出管的 B
极，行扫描输出管的 C 极(要注重测试方法)。这些要害点的波形一般是固定的，假如某点
VPP 值变低或变高，都会造成行扫描输出管激励不足或过激励而烧毁行扫描输出管。假如某点
的
的波形畸变，也会造成行扫描输出管过流，长时间使用过热烧毁。通过波形检测，可以迅
速定位故障点，找出故障缘由。
4、  温度测试法
主要用于换掉行扫描输出管后，对行扫描输出管的温度进行长时间监控，一般行扫描输出管连续使用两
70 度以下，基本都可以使用。注重测
个小时以上，行扫描输出管的温度不上升，保持在
量时，要盖上后盖，不开盖的状态测试与盖盖测试温度会有不小的差异，要测试
时要注重与实际使用环境温度相当。
5、  元件替换排除法
对于推断行逆程电容容量减小的故障，可以采纳电容并联法。
对于行扫描输出管发热量大的问题，可以选用几个不同的行扫描输出管（三代，四代，五代）
 
的行扫描输出管进行替换，分别测试行电流大小和发热量，温升最小的选用。
行扫描输出管击穿的缘由分类行扫描输出管击穿的缘由分类：：
行扫描输出管击穿的缘由分类行扫描输出管击穿的缘由分类：：
1、  开关电源输出电压偏高
由于电源稳压系统出现故障，不能稳压，导致 B+电压上升。假如 B+电压超
过 10%以上，会产生行扫描输出管击穿损坏现象。这时应重点彻查取样电路，误差放大器
和脉宽操纵电路的元件。另外，若电网电压太高，超过了开关电源同意的稳压值
范围，也会造成开关电源输出电压偏高。
2、  二次供电稳压电路异常，导致二次供电过高
正常情况下，显示器开机时，由于缓启动电路的存在，B＋的电压是慢慢升
高，而不是开机后直接跳为高电压。假如缓启动电容失容损坏，就会造成开机时
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电压连忙跳升，同时电压不稳，轻易造成烧行扫描输出管。
还有，二次供电采样电压路和稳压电路元器件损坏，也会造民二次供电异
常。
 
3、  行偏转线圈或行输出变压器局部短路
行偏转线圈奩行输出变压器发热后，因漆包线的绝缘性能下降而产生局部短
路，假如守护电路性能不佳，则会引起行扫描输出管损坏。这时可与同型号正常机器相比
较，通过测试行输出级电流来推断。假如开机瞬间连忙烧坏行扫描输出管，此时用手摸散
热片的温度较高，则说明是行偏转线圈或行输出变压器有短路，引起行扫描输出管过流击
 
穿。
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、  行频过低
因为流过行偏转线圈电流的最大值与行正程扫描时间成正比，即行频越低，
周期越长，行正程时间相应变长，结果使行偏转电流上升，当超过行扫描输出管所承受的
电流最大值时，使用行扫描输出管烧坏。因此，在调整行频时，应幸免使用行频长期处于
偏低状态。显示器的行频是由 MCU检测行场信号后，根据显示模式自动切换产
生，一般不会出现行频过低现象。
 
5、  行逆程时间过短
在行逆程期间，会产生很高的反峰脉冲电压，这就要求行逆程电容，行输出
管，阻尼二极管等元件具有很高的耐压能力。当行逆程电容容量变小，失效或开
路时，反峰脉冲电压上升，一旦超过行扫描输出管的耐压值，就会出现行扫描输出管换一只烧一只
的结果。此时，迅速用手摸行扫描输出管的散热片，若温度与未开机前差不多，则说明是
因为逆程电容开路而引起的过压击穿。
解决方法：是将行逆程电容全部换新。
6、  行激励不足
假如行激励不足，行扫描输出管不能迅速饱和，导致行扫描输出管内阻变大，使用行扫描线性
变差；假如行激励不足，行扫描输出管不能迅速地截止，使用行扫描输出管长时间地处于有电流流
过的不正常工作状态，将造成行输出电路的功耗增加，引起行输出管发烫。一旦
超过行扫描输出管功耗的极限值，则会使用行扫描输出管再度烧坏。其时间间隔有快有慢，有的则
开机就烧行扫描输出管；有的过一段时间才会烧行扫描输出管。若时间间隔长，不防用示波器观察
激励级的波形，可帮助找到故障缘由。
造成行激励不足的缘由有：行激励管性能不良；行激励变压器的供电电阻阻
值增大；行激励变压器的四周元件有虚焊；行激励变压器初级烧组上的滤波电容
变质；行振荡电路的晶振不良；集成电路中行振荡电路单独供电脚的外接电容失
效造成滤波不良。
、  环境潮湿
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这使用行输出变压器四周元件漏电，或者因散热不良(如将彩电置于柜内，
或维修时行扫描输出管与散热板上的固定螺丝未拧紧)，行扫描输出管过热，使其耐压降低，最终
导致损坏行扫描输出管。
、  行偏转线圈开路
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此时行扫描正程后半段行扫描输出管导通的时间将会大于其截止时间，使用行扫描输出管在逆
程时间内也短暂导通，导致行扫描输出管损坏。因此，维修时要非凡小心，在行偏转线圈
及其回路开路的情况下，假如长时间通电检修，是极危险的。
9、  行扫描电路中元件存在不稳定或老化，损坏短路等问题。
如 S 校正电容短路，枕校电路元件短路，使行电流大增，造成行扫描输出管因过流
 
而击穿。
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此外，阻尼二极管开路，自举升压电容短路，高压电泄露(如高压打火，高
压线穿孔)，行扫描输出管质量差，显像管内部跳火，AFC 电路故障等，也会造成行扫描输出管过
流击穿。
 
10、  开关电源中的行脉冲信号耦合电容，取样电压滤波电容失容。
受四周大功率元件高温烘烤后，电容失容，导致行扫描输出管击穿。
11、  行包（FBT 回扫变压器）或行中心调整线圈，枕校变压器，行扫描输出管，
逆程二极管等引脚虚焊
虚焊是显示器元件损坏大敌，开关电源变压器，电源管，行扫描输出管，行包，逆
程二极管，逆程电容，行中心调整线圈都工作在大电流，高电压环境，虚焊会造
成瞬间的接通与截止，尖峰电压很轻易烧毁电源管和行扫描输出管。
12、  行扫描输出管型号不对或行扫描输出管放大倍数相差太大，或使用了内置阻尼二极管
或阻尼电阻的行扫描输出管
我们在测试行扫描电路的、要害点电压时，也要注重测试方法，假如测试方
法不当也会瞬间烧行扫描输出管。
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、  高压打火，也是造成行扫描输出管损坏的一种缘由
行输出变压器在使用三到五年后，由于绝缘介质的老化，轻易出现高压打火现象。
高压打火可能产生在行输出变压器内部，也可能产生在行输出变压器对接地装置，也可能是高
压嘴四周打火，或高压线穿孔，高压打火出现会造成高压不稳，瞬间的放电导致
行扫描输出管负载变化异常造成行扫描输出管烧毁。

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